流图法在光探测器芯片高频特性测量校准上的应用

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流图法在光探测器芯片高频特性测量校准上的应用

全部作者: 苗昂 李轶群 崔海林 吴强 第1作者单位: 北京邮电大学 论文摘要: 在采用光调制法测量光探测器芯片高频响应特性的过程中,测试系统往往忽视光调制器响应、高频探针衰减以及端口间失配等误差中的1项或几项。为了降低校准不完善对结果造成的误差,本文提出了基于信号流图的系统校准分析方法,考虑了各种频响误差及端口间失配的影响,推导出校准公式。利用该法对1种光探测器的.典型测试系统——基于LCA(Lightwave component analyzer)的测试系统做了进1步校准分析,在130MHz~20GHz范围内,测量了1种新型光探测器的高频响应参数S21,结果表明经流图法校准的S21参数比仅使用原有校准算法有明显改善,证明了该方法的可行性。 关键词: 光探测器;高频响应;校准 (浏览全文) 发表日期: 2006年11月24日 同行评议:

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