一种集成电路产品测试系统的设计与实现
全部作者: 曹维国 邓中亮 王峥 第1作者单位: 北京邮电大学电子工程学院 论文摘要: 本文回顾了数字集成电路的测试技术;分析了该项技术在对SIM形式封装的`数字集成电路测试中的缺陷和不足;针对目前的测试系统的单1和性能价格比例偏低的情况提出了1种新型的综合测试系统,详细介绍了该系统的工作原理及组成,讨论了该系统的软硬件设计方案,总结了其优点。 关键词: 用户识别模块,集成电路,测试系统,精密测量单元 (浏览全文) 发表日期: 2007年07月16日 同行评议:
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