微处理器全速电流测试实验研究
毕业论文
【 摘 要 】
随着集成电路制造技术的发展，基于固定型故障模型的电压测试技术越来越不能满足高性能集成电路的需求。为了降低测试成本并且提高集成电路的`可靠性，电流测试应运而生。电流测试技术包括稳态电流测试(IDDQTesting)、瞬态电流测试(IDDTTesting)两种方法。稳态电流测试目前已经实用化，而瞬态电流测试由于其对测试设备要求苛刻和其他1些技术问题仍处于研究阶段。针对瞬态电流测试过于依赖测试设备的现状，中科院闵应骅教授提出了基于瞬态电流的全速电流测试方法(IDDATesting)。全速电流测试的可行性已在仿真实验中得到了验证，现在需要实测实验的支持。 微处理器是1种较为特殊的电路，它可不需要外加激励而依靠程序存储器自行运转。若以程序作为测试激励，用全速电流测试方法检测微处理器，实验过程将非常容易实现。本文针对微处理器的特点，提出了指令级全速电流测试方法。希望以AT89C51微处理器为例，通过实验说明用全速电流测试进行微处理器测试是可行的。AT89C51的指令级测试以汇编测试程序作为测试激励，实验中通过对AT89C51的详细分析，确定了针对通路的测试策略，并给出了测试程序产生方法。测试时，我们让微处理器重复执行选定的测试程序，用普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流。实验结果表明，用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的，通过测试所有的数据通路，不仅可以检测数据通路的故障，而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误。
【文摘语种】 中文文摘
【论文页数】 1-51
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