论如何简化放大器和混频器的测量

时间:2020-10-04 10:02:35 机电毕业论文 我要投稿

论如何简化放大器和混频器的测量

  论文关键词:放大器;混频器;测量
  论文摘要:
在构成射频系统的基本部件中,放大器和混频器等都是需要经常进行测试的元器件。多端口测试系统可以同时实现高速度和高精度。新型VNA的内部设置有两个内置RF信号源,内置两个RF信号源来简化放大器和混频器的测量。对于放大器的测量,可以使用信号合路器将两个信号合并,然后送到被测放大器(AUT)的输入端;混频器测量的NXN测量法有效的解决了常规测量法所无法解决的一些困难和技术难点。
  
  目前产品设备中子系统集成程度不断提高的发展趋势,正在改变着对放大器和混频器进行的测试方式,使得在测试过程中对仪表的设置更加简单,测量时间更短,准确性更高。
  
  一、多端口测试系统可以同时实现高速度和高精度
  传统VNA使用一个作为激励的RF信号源,并采用多路测量接收机来测量正反两个方向上的入射、反射和传输信号;传统VNA有两个测试端口,因为早期的大多数器件只有一个或两个端口。为了对多端口器件进行测量,就需要在被测器件(DUT)的各个端口之间多次变换测试电缆和端接负载,直到完成对所有端口的测量。现在,RF系统所使用的许多器件都有三、四个端口,多至七、八个端口的器件也变得越来越常见。导致器件端口数量提高的原因有两个:一个是平衡元器件的广泛使用,另一个是子组件的集成程度不断提高,如当前手机中使用的前端模块。为此,可以考虑增加测试系统的测试端口数量进行放大器和混频器的测量。多端口测试系统与使用传统的两端口VNA相比,大大地提高了测试速度。因为它有四大改进:
  (一)两个信号源
  第二个内部信号源与第一个信号源的频率和功率电平设置是相互独立的。第二个信号源可用于非线性放大器测试如互调失真(IMD),或用作测试混频器和变频器的快速本地振荡器(LO)。
  (二)宽带信号合路器
  内部信号合路器可以在仪器的相关测试端口耦合器之前将两个源合并在一起。这便简化了需要两个信号源的放大器测试设置。
  (三)信号切换和接入点
  辅助开关和射频接入点能实现灵活的信号路径选择,并增加外部信号调理得硬件(如推动放大器)或外部测试设备(如数字信号发生器或矢量信号分析仪)。
  (四)脉冲测试能力
  内部脉冲调制器和脉冲发生器提供完全一体化的脉冲S参数解决方案。
  这些改进简化了测试设置过程并在测量放大器、混频器和变频器时缩短了测试时间。这些新增加的特性结合在一起极大地扩大了对被测器件(DUT)进行一次连接可以实现的测量范围。
  
  二、内置两个RF信号源来简化放大器和混频器的测量
  新型VNA的内部设置有两个内置RF信号源,可以对IMD进行测量,而以前这主要通过两个外接的信号源和一个频谱分析仪来完成。基于VNA的测试方法使得在测试过程中对仪表的设置更加简单、测量时间更短、准确性更高。内置两个RF信号源进行放大器和混频器的测量有三个优点。首先,只用一台测试仪器,只进行一次连接便能对全部参数进行测量:S参数、增益压缩、输出谐波、IMD等等。其次,与使用频谱分析仪相比,用功率计对VNA进行校准之后,测量精度更高。最后,如果使用一台频谱分析仪和两个独立的信号源进行同样的测试,完成测试需要花几分钟的时间,但使用PNA-X只需0.6秒。
  两个内置信号源的性能增强,简化了放大器和混频器测量。例如,测试端口可利用的最大信号功率通常为+13至+20 dBm(取决于型号和频率)。